(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ASTM E673-02
Standard Terminology Relating to Surface Analysis
10 стр.
Заменен
Печатное изданиеЭлектронный (pdf)
96.72 $ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ASTM
ICS:
17.040.20 Properties of surfaces / Свойства поверхностей01.040.17 Metrology and measurement. Physical phenomena (Vocabularies) / Метрология и измерения. Физические явления (Словари)
Сборник (ASTM):
03.06 Molecular Spectroscopy and Separation Science; Surface Analysis / Молекулярная спектроскопия; Анализ поверхности
Тематика:
Spectroscopy
Описание
Область применения

1.1 This terminology is related to the various disciplines involved in surface analysis.

1.2 The definitions listed apply to (a) Auger electron spectroscopy (AES), (b) X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), (c) ion-scattering spectroscopy (ISS), (d) secondary ion mass spectrometry (SIMS), and (e) energetic ion analysis (EIA).

Ключевые слова:
terminology