(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ASTM F466-79(1992)
Test Method for Small-Signal Scattering Parameters of Low-Power Transistors in the 0.2 to 2.0 GHZ Frequency Range (Withdrawn 1997)
8 стр.
Отменен
Печатное изданиеЭлектронный (pdf)
96.72 $ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ASTM
ICS:
31.080.30 Transistors / Транзисторы
Сборник (ASTM):
10.04 Electronics; Declarable Substances in Materials; 3D Imaging Systems; Additive Manufacturing Technologies / Электроника; Декларируемые вещества в материалах; Системы 3D-визуализации; Аддитивные технологии производства
Описание