(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
ASTM F632-90
Test Method for Measuring Small-Signal Comon Emitter Current Gain of Transistors at High Frequencies (Withdrawn 1995)
6 стр.
Отменен
Печатное изданиеЭлектронный (pdf)
96.72 $ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/ASTM
ICS:
31.080.30 Transistors / Транзисторы
Сборник (ASTM):
10.04 Electronics; Declarable Substances in Materials; 3D Imaging Systems; Additive Manufacturing Technologies / Электроника; Декларируемые вещества в материалах; Системы 3D-визуализации; Аддитивные технологии производства
Описание