(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
17/30351625 DC
BS EN 63068-1. Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Part 1. Classification of defects
25 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Electronic equipment and components, Integrated circuit technology, Semiconductor devices