(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
17/30363044 DC
BS EN 62047-36. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 36. Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
17 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Terminology, Electronic equipment and components, Electromechanical devices, Semiconductor technology, Integrated circuits, Semiconductor devices, Vocabulary