BS EN 62047-36. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 36. Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
17 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие