BS ISO 22415. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials
31 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов
Ключевые слова:
Surfaces, Chemical analysis and testing, Definitions, Vocabulary, Surface properties, Spectroscopy