(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
18/30362138 DC
BS ISO 22415. Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials
31 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов
Ключевые слова:
Surfaces, Chemical analysis and testing, Definitions, Vocabulary, Surface properties, Spectroscopy