(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
18/30368966 DC
BS ISO 14701. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness
24 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов
Ключевые слова:
Chemical analysis and testing, Optical chemical analysis, Silicones, X-ray therapy, Chemical tests