(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
18/30381548 DC
BS EN 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET). Part 1. Fast BTI Test method
17 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
30.24 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.30 Transistors / Транзисторы
Ключевые слова:
Testing conditions, Semiconductors, Voltage measurement, Electronic equipment and components, Temperature, Transistors, Metal oxide semiconductors, Semiconductor devices