(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-1:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. General
12 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Environmental testing, Testing conditions, Semiconductor devices, Integrated circuits, Mechanical testing, Electronic equipment and components, Climate