(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-19:2003+A1:2010
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength
10 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Integrated circuits, Substrates (insulating), Quality control, Environmental testing, Strength of materials, Semiconductor devices, Shear testing, Shear strength, Electrical components, Climate, Mechanical testing, Electrical equipment, Electronic equipment and components