(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-2:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Low air pressure
10 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Integrated circuits, Pressure, Electronic equipment and components, Semiconductor devices, Climate, Air, Low-pressure tests, Mechanical testing, Environmental testing