Вход
Логин:
Пароль:
Запомнить меня
Отменить
Восстановление пароля
(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
Обозначение
Наименование
Действующие
Расширенный поиск
Запросить
стандарт
ФИО:
Организация:
Должность:
Город, адрес:
Телефон:
E-mail:
Откуда вы о нас узнали:
Запрос информации:
This site is protected by reCAPTCHA and the Google
Privacy Policy
and
Terms of Service
apply.
О компании
Каталог продукции
API
По тематике
ARINC
ASME
ASNT
ASTM
AWS
AWWA
BSI
DIN
IEC
ISO
MSS
NACE
NFPA
ONORM
SAE
SSPC
Контакты
BS EN 60749-2:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Low air pressure
10 стр.
Действует
Печатная копия
Печатное издание
Англ.:
154.22£
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Integrated circuits, Pressure, Electronic equipment and components, Semiconductor devices, Climate, Air, Low-pressure tests, Mechanical testing, Environmental testing
Взамен:
BS EN 60749:1999
Ссылочные документы:
IEC 60068-2-13:1966 ed3.0
BS EN 60068-2-13:1999
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
Карта сайта
www.normdocs.ru
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)