(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-25:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Temperature cycling
16 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Thermal testing, Solders, Electronic equipment and components, Integrated circuits, Environmental testing, Climate, Testing conditions, Thermal-cycling tests, Semiconductor devices, Heating tests, Mechanical testing