(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-3:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination
16 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Integrated circuits, Environmental testing, Mechanical testing, Climate, Electronic equipment and components, Semiconductor devices, External, Non-destructive testing, Visual inspection (testing)