(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-36:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acceleration, steady state
8 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Endurance testing, Integrated circuits, Impact testing, Semiconductor devices, Mechanical testing, Electronic equipment and components, Acceleration measurement, Acceleration tests, Climate, Environmental testing, Stress, Destructive testing