(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-37:2008
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer
22 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Printed-circuit boards, Electronic equipment and components, Integrated circuits, Surface mounting devices, Accelerated testing, Environmental testing, Drop tests, Semiconductor devices, Mechanical testing, Impact testing