(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-38:2008
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Soft error test method for semiconductor devices with memory
16 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Errors, Environmental testing, Electronic equipment and components, Computer storage devices, Semiconductor devices, Mechanical testing, Integrated circuits, Alpha particles