(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-6:2002
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature
8 стр.
Заменен
Печатная копияПечатное издание
148.18 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Integrated circuits, Semiconductor devices, Semiconductor storage, Mechanical testing, Climate, Electronic equipment and components, Electronic storage, Environmental testing, High temperatures