(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-6:2017
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Storage at high temperature
12 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
High temperatures, Electronic storage, Semiconductor devices, Semiconductor storage, Climate, Integrated circuits, Environmental testing, Electronic equipment and components, Mechanical testing