(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 60749-7:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases
14 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Water vapour, Mechanical testing, Climate, Moisture measurement, Integrated circuits, Semiconductor devices, Environmental testing, Water-vapour tests, Electronic equipment and components, Gas analysis