(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 62047-12:2011
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
34 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
299.38 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Semiconductor devices, Electronic equipment and components, Electromechanical devices, Semiconductor technology, Integrated circuits, Thin-film devices, Fatigue testing, Bend testing, Resonance, Vibration, Test specimens, Test equipment