(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 62047-14:2012
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Forming limit measuring method of metallic film materials
20 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Electronic equipment and components, Test specimens, Vibration, Resonance, Thin-film devices, Bend testing, Electromechanical devices, Semiconductor technology, Semiconductor devices, Fatigue testing, Integrated circuits, Test equipment