(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 62047-2:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Tensile testing method of thin film materials
16 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Integrated circuits, Thin films, Test equipment, Tensile testing, Electronic equipment and components, Electromechanical devices, Semiconductor technology, Semiconductor devices, Test specimens