(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS EN 62047-21:2014
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials
16 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Vibration, Semiconductor technology, Fatigue testing, Test specimens, Semiconductor devices, Resonance, Electronic equipment and components, Test equipment, Thin-film devices, Bend testing, Electromechanical devices, Integrated circuits