Вход
Логин:
Пароль:
Запомнить меня
Отменить
Восстановление пароля
(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
Обозначение
Наименование
Действующие
Расширенный поиск
Запросить
стандарт
ФИО:
Организация:
Должность:
Город, адрес:
Телефон:
E-mail:
Откуда вы о нас узнали:
Запрос информации:
This site is protected by reCAPTCHA and the Google
Privacy Policy
and
Terms of Service
apply.
О компании
Каталог продукции
API
ARINC
ASME
ASNT
ASTM
AWS
AWWA
BSI
DIN
IEC
ISO
MSS
NACE
NFPA
ONORM
SAE
SSPC
Контакты
BS EN 62047-6:2010
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Axial fatigue testing methods of thin film materials
18 стр.
Действует
Печатная копия
Печатное издание
Англ.:
184.46£
184.46 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие
Ключевые слова:
Integrated circuits, Tensile testing, Thin films, Test specimens, Fatigue testing, Semiconductor devices, Test equipment, Semiconductor technology, Electromechanical devices, Axial stress, Electronic equipment and components
Ссылочные документы:
BS EN 62047-2:2006
ASTM E1823-05a
IEC 62047-2:2006 ed1.0
ISO 10993-4:2002/Amd.1:2006
ASTM E466-96
BS ISO 6892-4:2015
BS ISO 12107:2003
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
Карта сайта
www.normdocs.ru
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)