BS EN 62132-2:2011
Integrated circuits. Measurement of electromagnetic immunity. Measurement of radiated immunity. TEM cell and wideband TEM cell method
28 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
257.04 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Ключевые слова:
Integrated circuits, Electromagnetic compatibility, Electromagnetic radiation, Electronic equipment and components, Electrical wave measurement, Electrical measurement, Radiofrequencies, Waveguides
Ссылочные документы:
BS EN 55016-2-4:2004BS EN 55016-2-3:2006BS EN 55016-2-1:2009BS EN 55016-1-5:2004BS EN 55016-1-1:2007+A2:2008BS EN 61000-4-20:2003BS EN 61000-4-6:2009BS EN 61000-4-3:2006/A1:2008BS EN 61000-4-3:2006+A1:2008CISPR 16-2-4:2003CISPR 16-2-3:2006CISPR 16-2-2:2005CISPR 16-2-1:2008CISPR 16-1-5:2003CISPR 16-1-2:2006CISPR 16-1-1:2007IEC 61000-4-20:2003 ed1.0IEC 61000-4-6:2008 RLV ed3.0IEC 61000-4-3:2006/AMD 1:2007IEC 61000-4-3:2006 ed3.0BS EN 62132-1:2006/Corrigendum:2006BS EN 62132-1:2006BS EN 61967-2:2005IEC 62132-1:2006 ed1.0IEC 61967-2:2005 ed1.0IEC 60050-161:1990 ed1.0IEC 60050-131:2002 ed2.0
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)