BS EN 62435-2:2017
Electronic components. Long-term storage of electronic semiconductor devices. Deterioration mechanisms
24 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
257.04 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.020 Electronic components in general / Электронные компоненты в целом
Ключевые слова:
Identification methods, Colour codes, Measurement, Position, Electric terminals, Ratings, Symbols, Letters (symbols), Terminology, Electronic equipment and components, Integrating circuits, Semiconductor devices, Testing conditions, Reliability, Acceptance (approval), Endurance testing, Electrical measurement, Electrical testing, Electrostatics, Sensitivity, Storage, Marking, Graphic symbols, Labels
Ссылочные документы:
IEC 61760-4:2015 ed1.0IEC TR 61340-5-2:2007/COR1:2009 ed1.0IEC 62435-5:2017 ed1.0IEC TR 62380:2004 ed1.0IPC/JEDEC J-STD-033B:2005IEC 60068-2-20:2008 ed5.0IEC TS 61945:2000 ed1.0IEC 60068-2-17:1994 ed4.0IEC 62435-9BS EN 190 000:1995IEC 61340-5-1:2007 ed1.0IEC 60721-3-3:1994 Cons Ed 2-2IEC 60749-21:2011 Ed 2IEC 62435-1:2017 ed1.0IEC 60410:1973 ed1.0IEC 60749-20-1:2009 Ed 1IEC 62435-4IEC 60721-3-1:1997 ed2.0IEC TR 62258-3:2010 ed2.0
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)