(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS IEC 62047-29:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature
14 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
154.22 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.99 Other semiconductor devices / Полупроводниковые приборы прочие31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Analysis, Test methods, Electromechanical devices, Semiconductor devices, Thin films