(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS IEC 62528:2007
Standard testability method for embedded core-based integrated circuits
126 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
444.53 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Ключевые слова:
Testing, Electronic engineering, Computer circuits, Microprocessor chips, Electronic equipment and components, Computer hardware, Integrated circuits