(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS ISO 16413:2013
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
40 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
299.38 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
35.240.70 IT applications in science. Including digital geographic information / Применение информационных технологий в науке. Включая цифровую географическую информацию, 71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов
Ключевые слова:
X-ray apparatus, X-ray analysis, Instruments, Density measurement, X-rays, Thickness measurement