(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS ISO 16700:2016
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification
30 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
257.04 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
37.020 Optical. Including microscopes, telescopes, binoculars, optical materials, optical components and optical systems / Оптическое оборудование. Включая микроскопы, телескопы и т.д.
Ключевые слова:
Scanning electron microscopes, Electron microscopes, Microscopes, Optical instruments, Electron optics, Electron beams, Magnification, Optical phenomena, Calibration, Control samples, Accuracy