Вход
Логин:
Пароль:
Запомнить меня
Отменить
Восстановление пароля
(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
Обозначение
Наименование
Действующие
Расширенный поиск
Запросить
стандарт
ФИО:
Организация:
Должность:
Город, адрес:
Телефон:
E-mail:
Откуда вы о нас узнали:
Запрос информации:
This site is protected by reCAPTCHA and the Google
Privacy Policy
and
Terms of Service
apply.
О компании
Каталог продукции
API
ARINC
ASME
ASNT
ASTM
AWS
AWWA
BSI
DIN
IEC
ISO
MSS
NACE
NFPA
ONORM
SAE
SSPC
Контакты
BS ISO 17867:2015
Particle size analysis. Small-angle X-ray scattering
32 стр.
Действует
Печатная копия
Печатное издание
Англ.:
299.38£
299.38 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
19.120 Particle. Including test sieves and porosimetry / Ситовый анализ. Просеивание. Включая контрольные сита и измерение пористости
Ключевые слова:
Particle size distribution, Suspensions (chemical), Particulate materials, Particle size measurement, Microscopic analysis, Optical measurement, Dispersions (chemical)
Ссылочные документы:
BS ISO 26824:2013
ISO 9276-1:1998/Cor.1:2004
ISO 9276-2:2014
ISO/TS 27687:2008
На это издание ссылаются:
© 2024 ООО «Нормдокс»
Карта сайта
www.normdocs.ru
тел.: (812) 309-78-59 (многоканальный)
тел.: (495) 223-46-76 (прямой московский номер)