(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS ISO 20263:2017
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
54 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
359.86 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.50 Physicochemical. Including spectrophotometric and chromatographic analysis / Физико-химические методы анализа. Включая спектрофотометрический и хроматографический анализы37.020 Optical. Including microscopes, telescopes, binoculars, optical materials, optical components and optical systems / Оптическое оборудование. Включая микроскопы, телескопы и т.д.
Ключевые слова:
Electron microscopes, Materials by form, Analysis, Interfaces, Measurement