(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS ISO 22415:2019
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials
38 стр.
Действует
Печатное изданиеПечатная копия
323.57 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.40 Chemical. Including analysis of gases and surface chemical analysis / Химический анализ. Включая анализ газов
Ключевые слова:
Surfaces|Chemical analysis and testing|Definitions|Vocabulary|Surface properties|Spectroscopy