(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS ISO 22489:2006
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive X-ray spectroscopy
24 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
238.90 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.99 Other standards related to analytical chemistry / Аналитическая химия, прочие аспекты
Ключевые слова:
Chemical analysis and testing, Microanalysis, Electron beams, Spectroscopy, Instrumental methods of analysis, Dispersion (waves), Wavelengths, X-rays, X-ray analysis, Specimen preparation, Test equipment