(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
BS ISO 25498:2010
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
40 стр.
Заменен
Печатная копияПечатное издание
299.38 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
71.040.50 Physicochemical. Including spectrophotometric and chromatographic analysis / Физико-химические методы анализа. Включая спектрофотометрический и хроматографический анализы
Ключевые слова:
Optical instruments, Chemical analysis and testing, Microanalysis, Spectroscopy, Electron microscopes, Electron diffraction, Electron beams, Crystal lattices, Test specimens