(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DD ENV 50219:1996
Description of the reliability test structures of the European mini test chip
38 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копия
323.57 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.200 Integrated. Including electronic chips, logical and analogue microstructures / Интегральные схемы. Микроэлектроника. Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры
Ключевые слова:
Computer applications|Modules|Dimensions|Digital integrated circuits|Assessed reliability|Semiconductor devices|Electronic equipment and components|Integrated circuits|Transistors|Systems analysis|Test equipment|Metal oxide semiconductors|Reliability|Failure (quality control)|Microprocessor chips