(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DD IEC/PAS 62483:2006
Test method for measuring whisker growth on tin and tin alloy surface finishes
30 стр.
Действует
Печатная копияПечатное издание
211.68 £ (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/BSI
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом
Ключевые слова:
Electrical components, Electronic equipment and components, Tin, Tin alloys, Electroplating, Metal coatings, Finishes, Surfaces, Solders, Surface defects, Corrosion, Environmental testing, Testing conditions