(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-29:2012-01
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011); German version EN 60749-29:2011
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 29: Latch-up-Prüfung (IEC 60749-29:2011); Deutsche Fassung EN 60749-29:2011
Действует
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
190.01 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN