(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50438-3:1984-02
Testing of materials for use in semiconductor technology; determination of interstitial atomic boron and phosphorus content of silicon by infrared absorption spectroscopy
Кремний для полупроводниковых приборов. Определение содержания загрязняющего бора и фосфора методом инфракрасной абсорбции
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in Silicium mittels Infrarot-Absorption; Bor und Phosphor
4 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
73.38 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы