(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50438-1:1978-01
Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of impurity content in silicon by infrared absorption, oxygen
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung des Verunreinigungsgehalts in Silicium mittels Infrarot-Absorption, Sauerstoff
5 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
58.64 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN