(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50441-5:1998-05
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of the geometric dimensions of semiconductor wafers - Part 5: Terms of shape and flatness deviation
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben -Teil 5: Begriffe zur Gestaltung- und Ebenheitsabweichung
10 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
95.66 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
01.040.29 Electrical engineering (Vocabularies) / Электротехника (Словари)29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы