(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50446:1995-09
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of defect types and defect densities of silicon epitaxial layers
Материалы для полупроводниковой технологии. Определение типов и плотности дефектов в эпитаксиальных слоях кремния
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Defektarten und Defektdichten in Silicium-Epitaxieschichten
10 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
119.74 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы