(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50444:1984-04
Testing of materials for semiconductor technology; conversion between resistivity and dopant density; silicon
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Umrechnung zwischen spezifischem elektrischen Widerstand und Dotierungskonzentration; Silicium
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
131.53 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN