(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50440:1998-11
Testing of materials for semiconductor technology - Measurement of carrier lifetime in silicon single crystals - Recombination carrier lifetime at low injection by photoconductivity method
Материалы для полупроводниковой технологии. Определение рекомбинационной долговечности носителей заряда в монокристаллах кремния при незначительной инжекции методом фотопроводимости
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der Trägerlebensdauer in Silicium-Einkristallen - Rekombinations-Trägerlebensdauer bei geringer Injektion nach dem Photoleitfähigkeitsverfahren
8 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
104.17 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы