(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 60749-23:2004-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004); German version EN 60749-23:2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 23: Lebensdauer bei hoher Temperatur (IEC 60749-23:2004); Deutsche Fassung EN 60749-23:2004
11 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
107.62 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом