(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50455-2:1999-11
Testing of materials for semiconductor technology - Methods for the characterisation photoresists - Part 2: Determination of photosensitivity of positive photoresists
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик фоторезистов. Часть 2. Определение светочувствительности позитивных фоторезистов
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Fotolacken - Teil 2: Bestimmung der Lichtempfindlichkeit von Positiv-Fotolacken
4 стр.
Действует
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
73.38 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы