(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50438-2:1980-06
Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of impurity content in silicon by infrared absorption, carbon
Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in Silicium mittels Infrarot-Absorption, Kohlenstoff
4 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
41.28 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN