(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN 62415:2010-12
Semiconductor devices - Constant current electromigration test (IEC 62415:2010); German version EN 62415:2010
Halbleiterbauelemente - Konstantstrom-Prüfverfahren zur Elektromigration (IEC 62415:2010); Deutsche Fassung EN 62415:2010
12 стр.
Действует
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
131.53 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом