(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN EN IEC 60749-13:2018-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2018); German version EN IEC 60749-13:2018
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 13. Солевая атмосфера
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre (IEC 60749-13:2018); Deutsche Fassung EN IEC 60749-13:2018
15 стр.
Действует
Электронный (pdf)Печатное изданиеПечатная копия
158.72 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
31.080.01 Semiconductor devices in general / Полупроводниковые приборы в целом