(812) 309-78-59
(495) 223-46-76
DIN 50449-2:1998-01
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in semiconductors by infrared absorption - Part 2: Boron in gallium arsenide
Материалы полупроводниковые. Определение содержания примесей методом абсорбции инфракрасного излучения. Часть 2. Бор в арсениде галлия
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung des Verunreinigungsgehaltes in III-V-Verbindungshalbleitern mittels Infrarotabsorption - Teil 2: Bor in Galliumarsenid
4 стр.
Отменен
Печатное изданиеПечатная копияЭлектронный (pdf)
73.38 € (включая НДС 20%)
Разработчик:
Зарубежные/DIN
ICS:
29.045 Semiconducting materials / Полупроводниковые материалы